x射線熒光測厚儀產品簡介
優特完善的X熒光分析軟件基于基本參數法(FP法)或校正曲線法,確保了**的測量結果。儀器易于操作,軟件界面更具人性化。
元素含量
分析指標
分析范圍:100PPM-99.99% 準確度:相對誤差5%以內
精密度:相對標準差5%以內 檢出限:100PPM
測試時間
鍍層測厚:10-100秒
元素分析:60-300秒
X光管
50W(4-50KV 0 -1.0mA)標配
樣品臺
簡易手動樣品臺,Z軸升降調節,操作簡單
探測器
正比計數器
測試軟件
基本參數法
濾光器
二次濾光
重量
100千克
準直器
Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm /
Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options
軟件
鍍層測厚軟件,元素分析軟件
樣品觀察
CCD高精度彩色攝像頭
配套
標準液體測量杯
對焦系統
鐳射對焦
穩壓系統
UPS穩壓電源
測量方向
從上向下
電腦
聯想電腦
可測元素
K到U
打印機
彩色噴墨打印機
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